Oferta
Analizy pierwiastkowe
ICP-OES (Indukcyjnie sprzężona plazma)
Analiza jakościowa lub ilościowa substancji stałych i/lub roztworów techniką ICP-OES
Analiza Elementarna (C,S)
Oznaczenie zawartości węgla i siarki (matryca nieorganiczna)
Oznaczanie zawartości węgla i siarki metodą spalania w tlenie z detekcją gazów w podczerwieni.
Analizator do oznaczania zawartości węgla i siarki CS744 (LECO)
Oznaczenie zawartości węgla i siarki (matryca organiczna)
Oznaczanie zawartości węgla i siarki metodą spalania w tlenie z detekcją gazów w podczerwieni.
Analizator do oznaczania zawartości węgla i siarki CS-r, (ELTRA)
XRF (Fluorescencja rentgenowska)
Analiza XRF
Nieniszcząca analiza pierwiastków w próbkach litych, proszkach i cieczach. Szybka i precyzyjna analiza zawartości od Na do U.
Spektrometr XRF S2 Puma (Bruker)
EDS (Dyspersyjna spektroskopia rentgenowska)
Obrazowanie SEM z EDS Obrazowanie TEM w tym analiza EDS na TEM Obrazowanie HR-TEM w tym analiza EDS i/lub EEELS
Technika EDS (dyspersyjna spektroskopia rentgenowska) pozwala na szybkie wyznaczenie składu pierwiastkowego w konkretnych punktach lub obszarach. Mikroanalizatory EDS stanowią dodatkowe wyposażenie w mikroskopach elektronowych SEM i TEM.
Wszystkie posiadane mikroskopy elektronowe SEM i TEM
