Oferta
Analizy rentgenowskie
XRD (Dyfraktometria rentgenowska)
Jakościowy skład fazowy
Ilościowy skład fazowy
Średnia wielkość krystalitów
Naprężenia sieciowe
Przemiany fazowe in-situ
Reflektometria
Badania cienkich warstw HR-XRD
XRF (Fluorescencja rentgenowska)
Analiza XRF
Nieniszcząca analiza pierwiastków w próbkach litych, proszkach i cieczach. Szybka i precyzyjna analiza zawartości od Na do U.
Spektrometr XRF S2 Puma (Bruker)
EDS (Dyspersyjna spektroskopia rentgenowska)
Obrazowanie SEM z EDS
Technika EDS (dyspersyjna spektroskopia rentgenowska) pozwala na szybkie wyznaczenie składu pierwiastkowego w konkretnych punktach lub obszarach. Mikroanalizatory EDS stanowią dodatkowe wyposażenie w mikroskopach elektronowych SEM i TEM.
Wszystkie posiadane mikroskopy elektronowe SEM
Obrazowanie TEM w tym analiza EDS na TEM
Technika EDS (dyspersyjna spektroskopia rentgenowska) pozwala na szybkie wyznaczenie składu pierwiastkowego w konkretnych punktach lub obszarach. Mikroanalizatory EDS stanowią dodatkowe wyposażenie w mikroskopach elektronowych SEM i TEM.
Wszystkie posiadane mikroskopy elektronowe TEM
Obrazowanie HR-TEM w tym analiza EDS i/lub EEELS
Technika EDS (dyspersyjna spektroskopia rentgenowska) pozwala na szybkie wyznaczenie składu pierwiastkowego w konkretnych punktach lub obszarach. Mikroanalizatory EDS stanowią dodatkowe wyposażenie w mikroskopach elektronowych SEM i TEM.
Transmisyjny mikroskop elektronowy TEM FEI TITAN3 G2 60-300 (FEI Company)
