Materials-Lab
Usługi
Laboratorium oferuje szeroki zakres usług badawczych w zakresie analizy i charakterystyki materiałów.
Wykonujemy zaawansowane analizy mikroskopowe (SEM, TEM), analizy rentgenowskie (XRD, XRF, EDS) oraz analizy pierwiastkowe (ICP-OES, analiza elementarna), umożliwiające szczegółowe badanie struktury i składu materiałów. Oferujemy również analizy termiczne (TGA, DSC, TMA, DMA), pozwalające na ocenę właściwości materiałów w funkcji temperatury. Uzupełnieniem oferty są techniki identyfikacji grup funkcyjnych (FTIR, spektroskopia Ramana), mikroobróbka laserowa, a także testy starzeniowe i inne pomiary fizykochemiczne.
Nasza zaawansowana aparatura pomiarowa oraz specjalistyczna wiedza pozwalają na realizację zleceń komercyjnych oraz prac badawczo-rozwojowych.
Analizy mikroskopowe
SEM (Skaningowa Mikroskopia Elektronowa)
Obrazowanie SEM mikrostruktury, Analiza EDS składu w mikroobszarach, Mapowanie EDS, Analiza fazowa EBSD w mikroobszarze, Analizy korelacyjne (SEM, CL, RS, EBSD)
- składu pierwiastkowego – spektroskopia EDS
- składu fazowego, orientacji zieren i analizę tekstury – EBSD
- właściowości elektronowych na podstawie emisji światła (300-800nm) pod wpływem wiązki elektornowej – katodolumnescencja (CL)
- składu chemicznego i struktury molekularnej substancji – spekroskopia ramanowska (RS)
Preparatyka próbek metodą FIB
Pobieranie lameli do badań TEM metodą skupionej wiązki jonów galu z określonych (mikro)lokalizacji.
Mikroskop FIB/SEM HELIOS NANOLAB 450HP (Thermo Fisher Scientific/FEI)
Preparatyka próbek do obserwacji SEM
Kompleksowa preparatyka próbek do obserwacji SEM: przygotowanie zgładów, obróbka mechaniczna, napylanie cienkich warstw przewodzących (np. węglowych, złotych, platynowych, wolframowych) przed analizą mikroskopową.
TEM (Transmisyjna Mikroskopia Elektronowa)
Obrazowanie TEM i STEM, Obrazowanie HR-TEM i HR-STEM, Analiza EDS i EELS, Mapowanie EDS i EELS
Transmisyjne mikroskopia elektronowa (TEM) pozwala na obrazowanie nanostruktury próbek z wysoką i z atomową rozdzielczością. Obrazy dyfrakcyjne pozwalają na określenie struktury krystalograficznej w nanoobszarach. Techniki EDS i EELS rozszerzają mozliwości TEM o analizę składu pierwiastkowego (EDS) i chemicznego (EELS). W trybie STEM możliwe jest uzyskiwanie map składu chemicznego nawet w rozdzielczości atomowej.
Preparatyka FIB
Pobieranie lameli do badań TEM metodą skupionej wiązki jonów galu z określonych (mikro)lokalizacji.
Mikroskop FIB/SEM HELIOS NANOLAB 450HP (Thermo Fisher Scientific/FEI)
Tomografia elektronowa
Wyznaczenie struktury 3D cienkich próbek o grubości do 1 um
Analiza mineralogiczna (QEMSCAN®)
Analiza QEMSCAN z preparatyką
QEMSCAN® łączy skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) z systemem EDS (dyspersyjna spektroskopia rentgenowska) oraz specjalistycznym oprogramowaniem, które automatycznie klasyfikuje minerały na podstawie ich charakterystyki chemicznej i strukturalnej. Analiza odbywa się piksel po pikselu (tzw. raster scanning), a dane przetwarzane są w formie map mineralogicznych oraz tabel ilościowych.
Skaningowy Mikroskop Elektronowy SEM FEI QUANTA 650F (QEMSCAN®) (Thermo Fisher Scientific/Company)
Analizy spektroskopowe
FTIR (Spektroskopia w podczerwieni)
Potwierdzenie tożsamości i/lub identyfikacja głównych grup funkcyjnych techniką FTIR
Identyfikacja głównych grup funkcyjnych, mapowanie i/lub analiza defektów techniką µ-FTIR
Mikroskopia FTIR pozwala na analizę materiałów w skali mikroskopowej. Umożliwia mapowanie powierzchni oraz precyzyjną analizę defektów.
Mikroskop FTIR Nicolet iN10 MX (Thermo Scientific)
Spektroskopia Ramana
Pomiary spektroskopii Ramana
Analiza struktury chemicznej i krystalicznej materiałów, w tym polimerów, ceramiki, grafenu i nanomateriałów. Możliwość mapowania z rozdzielczością mikrometryczną.
Mikroskop konfokalny Raman WITec alpha300 R
Analizy rentgenowskie
XRD (Dyfraktometria rentgenowska)
Jakościowy skład fazowy
Ilościowy skład fazowy
Średnia wielkość krystalitów
Naprężenia sieciowe
Przemiany fazowe in-situ
Reflektometria
Badania cienkich warstw HR-XRD
XRF (Fluorescencja rentgenowska)
Analiza XRF
Nieniszcząca analiza pierwiastków w próbkach litych, proszkach i cieczach. Szybka i precyzyjna analiza zawartości od Na do U.
Spektrometr XRF S2 Puma (Bruker)
EDS (Dyspersyjna spektroskopia rentgenowska)
Obrazowanie SEM z EDS
Technika EDS (dyspersyjna spektroskopia rentgenowska) pozwala na szybkie wyznaczenie składu pierwiastkowego w konkretnych punktach lub obszarach. Mikroanalizatory EDS stanowią dodatkowe wyposażenie w mikroskopach elektronowych SEM i TEM.
Wszystkie posiadane mikroskopy elektronowe SEM
Obrazowanie TEM w tym analiza EDS na TEM
Technika EDS (dyspersyjna spektroskopia rentgenowska) pozwala na szybkie wyznaczenie składu pierwiastkowego w konkretnych punktach lub obszarach. Mikroanalizatory EDS stanowią dodatkowe wyposażenie w mikroskopach elektronowych SEM i TEM.
Wszystkie posiadane mikroskopy elektronowe TEM
Obrazowanie HR-TEM w tym analiza EDS i/lub EEELS
Technika EDS (dyspersyjna spektroskopia rentgenowska) pozwala na szybkie wyznaczenie składu pierwiastkowego w konkretnych punktach lub obszarach. Mikroanalizatory EDS stanowią dodatkowe wyposażenie w mikroskopach elektronowych SEM i TEM.
Transmisyjny mikroskop elektronowy TEM FEI TITAN3 G2 60-300 (FEI Company)
Analizy pierwiastkowe
ICP-OES (Indukcyjnie sprzężona plazma)
Analiza jakościowa lub ilościowa substancji stałych i/lub roztworów techniką ICP-OES
Analiza Elementarna (C,S)
Oznaczenie zawartości węgla i siarki (matryca nieorganiczna)
Oznaczanie zawartości węgla i siarki metodą spalania w tlenie z detekcją gazów w podczerwieni.
Analizator do oznaczania zawartości węgla i siarki CS744 (LECO)
Oznaczenie zawartości węgla i siarki (matryca organiczna)
Oznaczanie zawartości węgla i siarki metodą spalania w tlenie z detekcją gazów w podczerwieni.
Analizator do oznaczania zawartości węgla i siarki CS-r, (ELTRA)
XRF (Fluorescencja rentgenowska)
Analiza XRF
Nieniszcząca analiza pierwiastków w próbkach litych, proszkach i cieczach. Szybka i precyzyjna analiza zawartości od Na do U.
Spektrometr XRF S2 Puma (Bruker)
EDS (Dyspersyjna spektroskopia rentgenowska)
Obrazowanie SEM z EDS Obrazowanie TEM w tym analiza EDS na TEM Obrazowanie HR-TEM w tym analiza EDS i/lub EEELS
Technika EDS (dyspersyjna spektroskopia rentgenowska) pozwala na szybkie wyznaczenie składu pierwiastkowego w konkretnych punktach lub obszarach. Mikroanalizatory EDS stanowią dodatkowe wyposażenie w mikroskopach elektronowych SEM i TEM.
Wszystkie posiadane mikroskopy elektronowe SEM i TEM
Analizy termiczne
TGA, DSC, TMA, DMA
Analiza termograwimetryczna (TGA)
TGA umożliwia ocenę zmian masy próbki w funkcji temperatury lub czasu, co pozwala na analizę stabilności termicznej badanych materiałów, w tym określenie temperatury degradacji, ilości dodatków nieorganicznych oraz poszczególnych etapów rozkładu.
Analizator termograwimetryczny TGA 2 (Mettler Toledo)
Skaningowa kalorymetria różnicowa (DSC)
DSC służy do badania efektów cieplnych związanych z przemianami fazowymi, takimi jak topnienie, krystalizacja czy przejście szkliste, poprzez pomiar ilości ciepła pochłanianego lub wydzielanego przez próbkę.
Aparat do dynamicznej analizy mechanicznej DMA/SDTA 861 (Mettler Toledo)
Analiza termomechaniczna (TMA)
TMA pozwala na śledzenie zmian wymiarów materiału pod wpływem temperatury, co jest wykorzystywane m.in. do określania współczynnika rozszerzalności cieplnej (CTE), przemiany szklistej czy temperatury mięknięcia.
Aparat do analizy termomechanicznej TMA/SDTA LN 600 i LF 1100 (Mettler Toledo)
Dynamiczna analiza mechaniczna (DMA)
DMA umożliwia charakterystykę właściwości mechanicznych materiału w funkcji temperatury i częstotliwości, analizując jego odpowiedź na dynamiczne obciążenia – szczególnie przydatną w ocenie sprężystości i tłumienia drgań.
Aparat do dynamicznej analizy mechanicznej DMA/SDTA 861 (Mettler Toledo)
Analiza sprzężona STA/TG-DSC (FTIR/QMS)
Analiza TG / DSC
Metoda sprzężona STA łączy jednoczesne pomiary TG/DSC – pozwala na wyznaczenie podstawowych parametrów termicznych (stabilność termiczna, temperatury przemian fazowych).
Analizator termiczny (TG-DSC) STA 449 F1 Jupiter (Netzsch)
Analiza sprzężona TG / DSC / FTIR / QMS
Metoda sprzężona STA łączy jednoczesne pomiary TG/DSC z analizą jakościową gazów wydzielanych podczas ogrzewania przy pomocy spektroskopii FTIR i spektrometrii mas QMS.
Analizator termiczny sprzężony z QMS i IR z ATR (Netzsch STA 449 F1 Jupiter; Bruker FTIR Tensor 27; QMS Aeolos)
Przewodność cieplna (LFA, HFM)
Analiza LFA
Laserowa metoda impulsowa (LFA) pozwala na wyznaczenie przewodności cieplnej materiałów stałych poprzez pomiar dyfuzyjności cieplnej.
Aparat laserowy do pomiaru dyfuzji termicznej LFA 457 MicroFlash (Netzsch)
Analiza HFM
Przepływomierz ciepła HFM umożliwia pomiar przewodności cieplnej materiałów izolacyjnych.
Aparat do pomiaru przewodności cieplnej HFM 436 Lambda (Netzsch)
Mikroobróbka laserowa
Cięcie, grawerowanie, strukturyzacja
Selektywne usuwanie cienkich warstw
Cięcie/strukturyzacja podłoży
Mikroskopia cyfrowa (Mikroskop Keyence)
Funkcjonalna mikroobróbka laserowa
Bezmaskowa technika DLIP (Direct Laser Interference Patterning) umożliwia tworzenie mikro- i nanostruktur nadających powierzchniom nowe właściwości: hydrofobowość, adhezję, przewodnictwo, właściwości optyczne. Stosowana m.in. w inżynierii powierzchni, biomateriałach, fotonice i elektronice drukowanej.
System do mikroobróbki z laserem pikosekundowym Optec SP450TO z przystawką DLIP
Testy starzeniowe
Starzenie z wykorzystaniem UV-A, UV-B
Wyznaczanie odporności materiałów/powłok malarskich na warunki klimatyczne (światło słoneczne (UV-A lub UV-B, temperatura, wilgotność)
Komora przyśpieszonego starzenia z lampami UV QUV Spray (Q-Lab)
Szoki termiczne (cykliczne zmiany)
Badanie odporności materiałów na szoki temperaturowe, szybka zmiana położenia próbek pomiędzy komorą z wyższą i niższą temperaturą
Komora mgły solnej WSC KWT450/SO2 (Weiss)
Mgła solna
Badania odporności na korozję poprzez narażenia na solankę z opcją SO2
Komora mgły solnej WSC KWT450/SO2 (Weiss)
Klimatyczna
Badania odporności materiałów na podwyższoną temperaturę oraz wilgotność
Komora klimatyczna WK3-340 (Weiss)
Pozostałe usługi
Szybka obróbka termiczna (RTP)
Wygrzewanie podłoży metodą RTP w temperaturze do 1200 °C
Annealsys AS-One 150
Wygrzewanie (suszarka laboratoryjna)
Wygrzewanie w szerokim zakresie temperatur (do 300 °C)
Binder FD53, Binder FD56
Wygrzewanie (płyta grzejna)
Wygrzewanie podłoży z dużą jednorodnością (±0,5 °C poniżej 120 °C, ±1% powyżej 120 °C) i precyzją w zakresie do 250 °C
SÜSS HP8 Hot plates
Powlekanie obrotowe (spin-coating)
Otrzymywanie cienkich warstw materiałów za pomocą rozwirowania (np. fotorezystu) z grubością zależną od prędkosci obrotowej.
SÜSS RCD8, Laurell WS-650, POLOS SPIN 150i
