Oferta
Analizy pierwiastkowe
ICP-OES (Indukcyjnie sprzężona plazma)
Analiza jakościowa lub ilościowa substancji stałych i/lub roztworów techniką ICP-OES
Analiza Elementarna (C,S)
Oznaczenie zawartości węgla i siarki (matryca nieorganiczna)
Oznaczanie zawartości węgla i siarki metodą spalania w tlenie z detekcją gazów w podczerwieni.
Analizator do oznaczania zawartości węgla i siarki CS744 (LECO)
Oznaczenie zawartości węgla i siarki (matryca organiczna)
Oznaczanie zawartości węgla i siarki metodą spalania w tlenie z detekcją gazów w podczerwieni.
Analizator do oznaczania zawartości węgla i siarki CS-r, (ELTRA)
XRF (Fluorescencja rentgenowska)
Analiza XRF
Nieniszcząca analiza pierwiastków w próbkach litych, proszkach i cieczach. Szybka i precyzyjna analiza zawartości od Na do U.
Spektrometr XRF S2 Puma (Bruker)
EDS (Dyspersyjna spektroskopia rentgenowska)
Obrazowanie SEM z EDS Obrazowanie TEM w tym analiza EDS na TEM Obrazowanie HR-TEM w tym analiza EDS i/lub EEELS
Technika EDS (dyspersyjna spektroskopia rentgenowska) pozwala na szybkie wyznaczenie składu pierwiastkowego w konkretnych punktach lub obszarach. Mikroanalizatory EDS stanowią dodatkowe wyposażenie w mikroskopach elektronowych SEM i TEM.
Wszystkie posiadane mikroskopy elektronowe SEM i TEM
Masz pytania?
Skontaktuj się z nami
Szukasz niezawodnych badań laboratoryjnych lub indywidualnych rozwiązań dopasowanych do Twoich potrzeb? Nasi eksperci są gotowi odpowiedzieć na Twoje pytania i doradzić najlepsze opcje. Skontaktuj się z nami już dziś!
- laboratoria@port.lukasiewicz.gov.pl
- +48 510 131 925
- ul. Stabłowicka 147, 54-066 Wrocław
Chcesz wiedzieć więcej?
Wypełnij krótki formularz kontaktowy – dzięki temu będziemy mogli się z Tobą skontaktować i przekazać szczegóły dotyczące naszych usług.
To pierwszy krok do nawiązania współpracy i dopasowania usług do Twoich potrzeb. Czekamy na Twój kontakt!
