Laboratorium Badań Materiałowych i Technologicznych
Sprzęty
Laboratorium Badań Materiałowych i Technologicznych dysponuje zaawansowaną i zróżnicowaną infrastrukturą badawczą, umożliwiającą prowadzenie kompleksowych analiz materiałowych.
Posiadamy nowoczesne mikroskopy elektronowe (SEM, TEM) wyposażone w dodatkowe detektory (EDS, EBSD, EELS, CL, RS), które znacząco rozszerzają możliwości analityczne i obrazowe. Wyjątkową funkcjonalność zapewnia specjalistyczne oprogramowanie QEMSCAN®, umożliwiające szczegółową analizę mineralogiczną materiałów.
Nasze zaplecze infrastrukturalne obejmuje również zaawansowane urządzenia, takie jak spektrometry mas, chromatografy cieczowe, spektrometry NMR, mikroskopy konfokalne, mikroskop elektronowy, spektrofotometry oraz stacje pipetujące.
Ponadto, laboratorium posiada wysokiej klasy dyfraktometry, spektrometry, urządzenia do analiz termicznych, systemy do precyzyjnej mikroobróbki laserowej, komory do testów starzeniowych oraz dodatkowe urządzenia do pomiarów właściwości fizykochemicznych.
Zastosowanie różnorodnych technik badawczych pozwala nam na realizację szerokiego zakresu analiz, dostosowanych do indywidualnych potrzeb Klientów z różnych branż.
Litografia optyczna
- SÜSS MicroTec Mask Aligner MA8/BA8
- Heidelberg Instruments µMLA Tabletop Maskless Aligner
- Spincoatery (SÜSS RCD8, Laurell WS-650)
Osadzanie próżniowe/rozpylanie
- Moorfield MiniLab 060 (rozpylanie magnetronowe)
- Moorfield MiniLab 080 (parowanie wiązką elektronową)
Chemiczne osadzanie z fazy gazowej ze wspomaganiem plazmowym (PECVD)
- Sentech SI 500 208 (materiały: SiO2, Si3N4)
Osadzanie warstw atomowych (ALD)
- Beneq TFS 200 (materiały: Al2O3, ZnO)
Trawienie i czyszczenie plazmowe
- Sentech SI 500 206 (ICP-RIE, gazy: Ar, O2, SF6, CF4, CHF3, C4F8)
- Sentech SI 500 207 (ICP-RIE, gazy: Ar, O2, SF6, CF4, SiCl4, BCl3, Cl2)
- TePla GIGAbatch 310M (czyszczenie plazmowe, gazy: O2, CF4)
- Diener Zepto (czyszczenie plazmowe, gazy: O2, Ar)
Wygrzewanie
- RTP AS-One 150 (szybka obróbka termiczna)
- Suszarki laboratoryjne: Binder FD53, Binder FD56
- Płyty grzewcze (SÜSS HP8, EMS 1200-1HT)
Drukowanie ścieżek przewodzących
- XTPL Delta Printing System
Pomiary
- Mikroskopy inspekcyjne: Leica DM 4000, Leica DM 8000, Keyence VHX-7000
- Bruker DektakXT (profilometr stykowy)
- Bruker ContourGT (profilometr optyczny)
- Sentech SE850 DUV (elipsometr spektroskopowy)
Skaningowe mikroskopy elektronowe, SEM
- FEI HELIOS NANOLAB 660 (Thermo Fisher Scientific dawniej FEI)
- FEI HELIOS NANOLAB 450HP (Thermo Fisher Scientific dawniej FEI)
- FEI QUANTA 650F ( QEMSCAN®) (Thermo Fisher Scientific dawniej FEI)
Transmisyjne mikroskowy elektronowe, (TEM)
- FEI TECNAI G2 X-TWIN (Thermo Fisher Scientific dawniej FEI)
- FEI TITAN3 G2 60-300 (Thermo Fisher Scientific dawniej FEI)
Urządzenia do analiz spektroskopowych
- Spektrometr FTIR Nicolet 6700 (Thermo Scientific)
- Mikroskop FTIR Nicolet iN10 MX (Thermo Scientific)
- Mikroskop konfokalny Raman WITec alpha300 R (WITec)
Urządzenia do analiz rengenowskich
- Dyfraktometr rentgenowski Empyrean (PANalytical)
- Spektrometr XRF S2 Puma (Bruker)
Urządzenia do analiz pierwiastkowych
- Spektrometr iCAP 7400 (Thermo Scientific)
- Analizatory do oznaczania zawartości węgla i siarki: CS-r (ELTRA), CS744 (LECO)
- Spektrometr XRF S2 Puma (Bruker)
Urządzenia do analiz termicznych
- Analizator termograwimetryczny TGA 2 (Mettler Toledo)
- Różnicowy kalorymetr skaningowy z modulowaną temperaturą MT-DSC DSC1 (Mettler-Toledo)
- Aparaty do analizy termomechanicznej TMA/SDTA LN 600 i LF 1100 (Mettler Toledo)
- Aparat do dynamicznej analizy mechanicznej DMA/SDTA 861 (Mettler Toledo )
- Analizator termiczny (TG-DSC) STA 449 F1 Jupiter (Netzsch)
- Analizator termiczny sprzężony z QMS i IR z ATR (Netzsch STA 449 F1 Jupiter; Bruker FTIR Tensor 27; QMS Aeolos)
- Aparat laserowy do pomiaru dyfuzji termicznej LFA 457 MicroFlash (Netzsch)
- Aparat do pomiaru przewodności cieplnej HFM 436 Lambda (Netzsch)
Urządzenia do mikroobróbki laserowej
- Systemy do mikroobróbki z laserem pikosekundowym Optec SP450TO, z laserem CO2 i światłowodowym FL400 OPTEC, z laserem excimerowym PROMASTER ATL/OPTEC, Zintegrowany system laserowy; model NT 342A-10, EKSPLA
- System do mikroobróbki z laserem pikosekundowym Optec SP450TO z przystawką DLIP
Urządzenia do testów starzeniowych
- Komora przyśpieszonego starzenia z lampami UV QUV Spray (Q-Lab)
- Komora szoków termicznych TS60 (Weiss)
- Komora mgły solnej WSC KWT450/SO2 (Weiss)
- Komora klimatyczna WK3-340 (Weiss)
Urządzenia do pozostałych usług
- Analizator sorpcji fizycznej 3Flex (Micromeritics)
- Porozymetr rtęciowy AutoPore IV 9510 (Micromeritics)
- Piknometr helowy AccuPyc 1340 (Micromeritics)
- Goniometr optyczny OCA35 (DataPhysics Instrument)
- Tensjometr wagowy DCAT11 (DataPhysics Instrument)
- ZetaSizer Nano ZS (Malvern)
- Aparat HMS 8407 (LakeShore Cryotronics)
Wysokorozdzielczy spektrometr mas Orbitrap Exploris 480 (Thermo Scientific)
- Źródła jonów: HESI, nanoESI
- Moduł ruchliwości jonów FAIMS
- Sprzężony z chromatografem cieczowym Vanquish Neo (Thermo Scientific)
Niskorozdzielczy spektrometr mas LCMS-8045 (Shimadzu) typu QqQ
- Analizator mas: potrójny kwadrupol
- Źródło jonów: ESI
- Fragmentacja: CID
- Sprzężony z ultra-wysokosprawnym chromatografem cieczowym Nexera X2 (Shimadzu)
Ultra-wysokosprawny chromatograf cieczowy Ultimate 3000 (Thermo Scientific)
- Detektor z matrycą diodową (DAD)
- Detektor fluorescencyjny (FLD)
Spektrometr mas LTQ Orbitrap Elite (Thermo Scientific)
- Źródła jonów: HESI, nanoESI, APCI
- Moduł ruchliwości jonów FAIMS
- Sprzężony z chromatografem cieczowym Easy nanoLC 1000/Ultimate 3000 (Thermo Scientific)
Spektrometr NMR Avance III HD 500 MHz (Bruker)
- Zmieniacz na 60 pozycji
- Sondy szerokopasmowe do pomiarów w roztworach: BBI i BBO
- Przystawka do pomiarów zmiennotemperaturowych w zakresie od -150 do 150 °C (BCUII oraz dewar N2(l))
Spektrometr NMR Avance III HD 600 MHz (Bruker)
- Źródła jonów: HESI, nanoESI, APCI
- Moduł ruchliwości jonów FAIMS
- Sprzężony z chromatografem cieczowym Easy nanoLC 1000/Ultimate 3000 (Thermo Scientific)
Spektrometr NMR Avance III HD 700 MHz (Bruker)
- Zmieniacz na 24 pozycje
- Sonda szerokopasmowa do pomiarów w roztworach: BBO
- Sondy 3-kanałowe do pomiarów w roztworach: TXI (P i N)
- Kriosonda 4-kanałowa do pomiarów w roztworach: QCI
- Przystawka do pomiarów zmiennotemperaturowych w zakresie od -150 do 150 °C (BCUII oraz dewar N2(l)), dla sondy QCI zakres temperatur wynosi od -40 do 80 °C
Dwuwiązkowy skaningowy mikroskop elektronowy SEM/FIB Zeiss Auriga 60
- System CrossBeam, kolumna jonowa Cobra
- Działo elektronowe z emisją polową (FEG), praca przy napięciach 0,1–30 kV
- Detektory: SE2, InLens, BSD, ESB, STEM, EDS (X-Max Oxford Instruments)
- GIS: Pt, W, H2O, izolator
- Moduł cryo SEM/FIB Quorum Technologies
Preparatyka mikroskopii elektronowej
- Ultramikrotom Leica EM UC7, z komorą kriogeniczną Leica FC7
- Napylarka wysokopróżniowa Leica EM ACE 600
- Suszarka w punkcie krytycznym Leica EM CPD 300
Mikroskop konfokalny Leica SP8 MP
- Statyw prosty
- Skaner konwencjonalny i rezonansowy (8 kHz)
- Lasery VIS: 405, 488, 552, 638 nm
- Laser IR: ChameleonVision II, pulsy femtosekundowe, długość fali regulowana w zakresie 680–1080 nm
- Detektory: 4 wewnętrzne PMT, 1 detektor HyD, 4 zewnętrzne NDD-PMT
- Obiektywy: 10x (NA 0,40), 20x (NA 0,75), 25x (NA 0,95 W), 40x (NA 1,10 W; NA 1,3 Oil), 63x (NA 1,4 Oil)
- Zmotoryzowany stolik skaningowy
- Kontroler temperatury i wkładka grzewcza do naczyń Petriego
- Zestaw do przyżyciowego obrazowania myszy laboratoryjnych
Mikroskop konfokalny Zeiss Cell Observer SD
- Statyw odwrócony
- Moduł spinning disk Yokogawa CSU-X1A 5000
- Lasery: 405, 488, 561, 639 nm
- 2 kamery EMCCD QImaging Rolera EM-C2 (Dual Camera)
- Obiektywy: 10x (NA 0,30), 20x (NA 0,4 LD), 25x (NA 0,80 W), 40x (NA 0,6 LD; NA 1,20 W; NA 1,4 Oil), 63x (NA 1,20 W; NA 1,4 Oil), 100x (NA 1,46 Oil)
- Zmotoryzowany stolik skaningowy z modułem Definite Focus
- Inkubator XLmulti S1, wkładka grzewcza do płytek 96-dołkowych
- Kontroler temperatury oraz stężeń O2 i CO2